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      檢測干涉顯微鏡的作用原理和應用

      發布時間:9/8/2018

          檢測干涉顯微鏡是根據光波的干涉原理,進行精確測量的儀器,它能夠測量出樣品表面高度的微小差別,它主要用于測定細胞或者組織的折射率或者的厚度。今天就給大家具體介紹下檢測干涉顯微鏡的作用原理和應用。

          根據原理,檢測干涉顯微鏡可以有雙光束的干涉顯微鏡和多束的干涉顯微鏡兩種。檢測干涉顯微鏡的作用原理是利用干涉的原理設計和研發出來的,由光源發出的光線,經過聚光鏡,透鏡,光闌以及濾色片的作用后,形成為平行的光束,再射向分光鏡后,就被分成了兩束,一束光線向上通過物鏡,再投射到被測的零件表面,再在其表面反射回來,通過分光鏡,以及聚光鏡的作用下,進入目鏡,這樣在目鏡的視野范圍內,就可以看到這束光線形成的干涉待圖形;而另一光束通過物鏡、補償鏡等,再反射會分光鏡,最后由反射鏡進入到目鏡中。這樣,兩種光束最終都進入了目鏡的視野范圍內進行觀察,如果被測試的樣品表面非常的不平,比較粗糙的話,干涉帶將會顯示成彎曲的形狀,以此來檢驗樣品的合格度。

          檢測干涉顯微鏡的應用主要有以下幾點:

          1、進行樣品表面粗糙度的測定,就如上面所說的那樣。

          2、用于觀察沒有經過染色的活細胞或是標本。

          3、進行材料相變浮凸和塑性變形的測量。檢測干涉顯微鏡能夠很方便的將高度差檢測出來,并且測量結果非常準確。

          可見,檢測干涉顯微鏡可以進行樣品表面粗糙度的測定,也可以進行觀察細胞的反射率等,應用范圍非常廣,它的作用原理其實也不難理解,主要是利用光的干涉和反射原理設計而成的,大家在使用的時候,如果有什么問題的話,可以咨詢網站的工作人員。

        
       (華顯光學)

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